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Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)

- Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D

Bog
  • Format
  • Bog, paperback
  • 223 sider

Beskrivelse

Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.

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Detaljer
  • Sidetal223
  • Udgivelsesdato23-01-2017
  • ISBN139783406707896
  • Forlag C.H. Beck
  • FormatPaperback
  • Udgave1. Auflage
Størrelse og vægt
  • Vægt667 g
  • Dybde2 cm
  • coffee cup img
    10 cm
    book img
    19,5 cm
    29,7 cm

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