Studiebog DRM-beskyttet

Particle Characterization in Technology

- Volume II: Morphological Analysis

J.K. Beddow

Bog E-bog

Format
E-bog, ePub
Engelsk

E-bogen er DRM-beskyttet og kræver et særligt læseprogram

Normalpris: kr. 2.584,95

Medlemspris: kr. 2.519,95 For at købe bogen til medlemspris skal du have et medlemskab med Shopping-fordele. Du kan prøve medlemskabet gratis i 7 dage. Medlemskabet fornyes automatisk og kan altid opsiges.

Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
Split betalingen op med

Beskrivelse

The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Læs hele beskrivelsen

Detaljer

SprogEngelsk
Sidetal288
Udgivelsesdato18-01-2018
ISBN139781351092265
Forlag Crc Press
FormatePub

Particle Characterization in Technology

- Volume II: Morphological Analysis

Findes i disse kategorier...

Se andre, der handler om...