Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Erg?nzend zu Vorlesung, zu Rechen?bungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgew?hlter Halbleiterbauelemente vorgestellt. F?r Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zur?ck gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgef?hrt f?r Schaltdiode, Kapazit?tsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverst?rker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlie ende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und D?nnschicht-Silizium-Solarzellen.