Komplexnoe spektroskopicheskoe issledowanie

Issledovano deystvie nabora flyuensov bystrykh neytronov na spektroskopicheskie kharakteristiki i sostoyanie struktury kristallicheskogo i stekloobraznogo kremnezema (SiO2). Metodom rentgenografii i fotolyuminestsentsii rassmotrena radiatsionnaya kinetika strukturnykh parametrov i protsessa defektoobrazovaniya v obrabotannykh materialakh. Vyyavleny zakonomernosti modifikatsii spektral'nykh kharakteristik ryada valentnykh i deformatsionnykh mod, dinamicheskikh parametrov i provodimosti kremnezema v rezul'tate oblucheniya neytronnym izlucheniem. Metodom KRS rassmotrena dinamika reshetki v nizkochastotnoy oblasti spektra. Sdelan vyvod, chto ustanovlennye osobennosti modifikatsii spektral'nykh i dinamicheskikh kharakteristik SiO2 opredelyayutsya deformatsiey i rastyazheniem Si-O svyazey, perestroykoy struktury obluchennogo neytronami kremnezema., mekhanizm kotoroy obsuzhdaetsya v rabote.