Du er ikke logget ind
Beskrivelse
Ziel der vorgestellten Arbeit war die Analyse und Darstellung einer Fallstudie ?ber den Wechsel der Pr?ftechnik f?r elektronische Leiterplatten von der In-Circuit-Pr?fung zur optischen Inspektion mit dem Schwerpunkt auf der Verbesserung der Produktqualit?t bei Intelbras S/A. Um diese Arbeit zu erm?glichen, wurden die Methoden der visuellen Inspektion, des In-Circuit-Testers (ICT) und der automatisierten optischen Inspektion (AOI) beschrieben. Die Bereiche der automatischen Best?ckung (SMT) und der drahtlosen Telefonmontage innerhalb von Intelbras S/A wurden vorgestellt. Schlie lich wurde die Studie beschrieben, die das Unternehmen dazu veranlasste, seine Pr?fmethode vom In-Circuit-Test auf die optische Inspektion umzustellen. Die vorgestellte Arbeit erwies sich als effektiv, denn sie bewies, dass die optischen Inspektionsmaschinen eine h?here Qualit?tsgarantie bieten als die In-Circuit-Tests und Fehler aufsp?ren, die mit der vorherigen Methode nicht erkannt worden w?ren.