Alle bøger i 'Frontiers in Electronic Testing' serier - Find Alle bøger hos Saxo side 4 af 5

Der er 129 produkter fra din søgning

Filtrér
Sorter efter

Sorter efter

- High Performance Memory Testing
- R. Dean Adams
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Soft Errors in Modern Electronic Systems
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Elements of STIL
- Julie N. Villar
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Testability Concepts for Digital ICs
- Roger Bennetts
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
- Anshuman Chandra
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- On-Line Testing for VLSI
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
- Alok Barua , Satyabroto Sinha & Prithviraj Kabisatpathy
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Emerging Nanotechnologies
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Digital Timing Measurements
- Wolfgang Maichen
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.064,95
- kr. 1.014,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.064,95
- kr. 1.014,95
  med Shopping-fordele
- Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
- Manoj Sachdev & José Pineda de Gyvez
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.244,95
- kr. 1.184,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.244,95
- kr. 1.184,95
  med Shopping-fordele
- Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Delay Fault Testing for VLSI Circuits
- Kwang-Ting Cheng
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.699,95
- kr. 1.634,95
  med Shopping-fordele
- Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
- Michael L. Bushnell
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
- Wojciech Maly
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Multi-Chip Module Test Strategies
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Formal Equivalence Checking and Design Debugging
- Shi-Yu Huang
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 2.094,95
- kr. 2.029,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 2.094,95
- kr. 2.029,95
  med Shopping-fordele
- Introduction to IDDQ Testing
- S. Chakravarty
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.174,95
- kr. 1.109,95
  med Shopping-fordele
- Testability Concepts for Digital ICs
- F. P. M. Beenker , R. G. Bennetts & A. P. Thijssen
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Elements of STIL
- Gregory A. Maston , Tony R. Taylor & Julie N. Villar
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Introduction to IDDQ Testing
- S. Chakravarty & Paul J. Thadikaran
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Formal Equivalence Checking and Design Debugging
- Shi-Yu Huang & Kwang-Ting (Tim) Cheng
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.349,95
- kr. 1.289,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.349,95
- kr. 1.289,95
  med Shopping-fordele
- Multi-Chip Module Test Strategies
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Delay Fault Testing for VLSI Circuits
- Angela Krstic & Kwang-Ting (Tim) Cheng
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
- Andrei Pavlov & Manoj Sachdev
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
- Andrei Pavlov
- E-bog, PDF
- Læs mere
- kr. 1.829,95
- kr. 1.764,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.829,95
- kr. 1.764,95
  med Shopping-fordele
- SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
- Krishnendu Chakrabarty
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Reasoning in Boolean Networks
- Wolfgang Kunz & Dominik Stoffel
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
- Vikram Iyengar & Anshuman Chandra
- Bog, paperback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Verification by Error Modeling
- Katarzyna Radecka & Zeljko Zilic
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 789,95
- kr. 754,95
  med Shopping-fordele
- Embedded Processor-Based Self-Test
- Dimitris Gizopoulos , A. Paschalis & Yervant Zorian
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
- Erik Larsson
- Bog, hardback
- Læs mere
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.109,95
- kr. 1.054,95
  med Shopping-fordele

Alle bøger i 'Frontiers in Electronic Testing' serier side 4 af 5