Alle bøger i 'Frontiers in Electronic Testing' serier - Find Alle bøger hos Saxo side 2 af 5

Der er 129 produkter fra din søgning

Filtrér
Sorter efter

Sorter efter

- From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
- Wojciech Maly
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
- Michael L. Bushnell
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
- Alok Barua , Satyabroto Sinha & Prithviraj Kabisatpathy
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
- Manoj Sachdev & José Pineda de Gyvez
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Digital Timing Measurements
- Wolfgang Maichen
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.069,95
- kr. 1.019,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.069,95
- kr. 1.019,95
  med Shopping-fordele
- Emerging Nanotechnologies
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- On-Line Testing for VLSI
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
- Nicola Nicolici & Bashir M. Al-Hashimi
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
- Krishnendu Chakrabarty
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Verification by Error Modeling
- Katarzyna Radecka & Zeljko Zilic
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Reasoning in Boolean Networks
- Dominik Stoffel & Wolfgang Kunz
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
- Jose Luis Huertas Díaz , Gloria Huertas Sánchez , Adoración Rueda Rueda
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
- Krishnendu Chakrabarty
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
- Manoj Sachdev
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 949,95
- kr. 884,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 949,95
- kr. 884,95
  med Shopping-fordele
- Models in Hardware Testing
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Advances in Electronic Testing
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Models in Hardware Testing
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Data Mining and Diagnosing IC Fails
- Leendert M. Huisman
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
- Fernanda Kastensmidt
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Data Mining and Diagnosing IC Fails
- Leendert Huisman
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
- Prithviraj Kabisatpathy
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- New Methods of Concurrent Checking
- Michael Gössel , Vitaly Ocheretny , Egor Sogomonyan
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
- Manoj Sachdev & Andrei Pavlov
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 7-9 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- The Core Test Wrapper Handbook
- Francisco da Silva , Teresa McLaurin & Tom Waayers
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- New Methods of Concurrent Checking
- Michael Gössel
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- On-Line Testing for VLSI
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Testing Static Random Access Memories
- Said Hamdioui
- E-bog, PDF
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.179,95
- kr. 1.119,95
  med Shopping-fordele
- Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
- Victor Champac & Jose Garcia Gervacio
- E-bog, ePub
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.444,95
- kr. 1.379,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: Straks (sendes på e-mail)
- kr. 1.444,95
- kr. 1.379,95
  med Shopping-fordele
- Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
- José T. de Sousa & Peter Y. K. Cheung
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.114,95
- kr. 1.059,95
  med Shopping-fordele
- Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
- Ricardo Reis & Fernanda Lima Kastensmidt
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 794,95
- kr. 759,95
  med Shopping-fordele
- A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
- Charles E. Stroud
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.514,95
- kr. 1.454,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 2-3 uger (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.514,95
- kr. 1.454,95
  med Shopping-fordele

Alle bøger i 'Frontiers in Electronic Testing' serier side 2 af 5