Alle bøger om VLSI metrology

Alle titler på Saxo.com der handler om VLSI metrology.
Vi har 2 titler inden for emnet VLSI metrology. 0 af disse titler kan du købe som digitale udgaver og opleve med det samme. Se vores store udvalg neden for.

Dine valg Ryd alle
- VLSI metrology
Type
- Bøger (2)
Format
- Paperback (1)
- Hardback (1)
Sprog
- Engelsk (2)
Forfatter
- Umberto Celano (1)
Forlag
- Springer Nature Switzerland AG (2)

Ryd alle

Der er 2 produkter fra din søgning

Filtrér
Sorter efter

Sorter efter

- Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
- Bog, paperback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 9-12 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
- Bog, hardback
- Sprog: Engelsk
- Læs mere
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele
- Leveringstid: 9-12 Hverdage (Sendes fra fjernlager)
- kr. 1.254,95
- kr. 1.194,95
  med Shopping-fordele